Отправить сообщение
ZEIT Group 86-28-62156220-810 hua.du@zeit-group.com
Stress Birefringence Measurement System Detection Equipment In Semiconductor Industry

Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности

Продукция - Система измерения двулучепреломления
  • Высокий свет

    Полупроводниковая система измерения двойного лучепреломления

    ,

    Оборудование для обнаружения двойного лучепреломления при напряжении

    ,

    Полупроводниковое оборудование для измерения двойного лучепреломления при напряжении

  • Размер
    Настраиваемый
  • Настраиваемый
    Доступный
  • Гарантийный срок
    1 год или в каждом конкретном случае
  • Условия доставки
    Морским/воздушным/мультимодальным транспортом и т. д.
  • Место происхождения
    Чэнду, КНР
  • Фирменное наименование
    ZEIT
  • Сертификация
    Case by case
  • Номер модели
    SBD-S-X—X
  • Количество мин заказа
    1 комплект
  • Цена
    Case by case
  • Упаковывая детали
    деревянная коробка
  • Время доставки
    От случая к случаю
  • Условия оплаты
    Т/Т
  • Поставка способности
    От случая к случаю

Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности

  • Stress Birefringence Measurement System Detection Equipment In Semiconductor Industry
Получить цену Контакт

Оборудование для обнаружения двойного лучепреломления в полупроводниковой промышленности

 

 

Приложения

   УФ-ультрафиолет     Полупроводник
    Производитель сырья для источников света

 

Принцип работы

Двулучепреломление вещества оценивают путем сравнения состояний поляризации света до и после воздействия света.

проникает в объект, а величина напряжения двулучепреломления образца определяется после расчета.

 

Функции

    Модель

    SBD-SX—X
    Рабочий режим     Измерение в реальном времени
    Функция     Величина напряжения, распределение напряжения
    Диапазон волн обнаружения     ВИС-520нм, 590нм, 650нм
Диапазон испытаний     1~110нм и 1~280нм
    Пространственное разрешение     0,05 мм
    Повторяемость испытаний     0,1 нм
    Частота измерения     >15 кадров в секунду

    Примечание: Доступно индивидуальное производство.

                                                                                                                

Изображения обнаружения

Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 0Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 1

Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 2Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 3

 

Наши преимущества

Мы производитель.

Зрелый процесс.

Ответ в течение 24 рабочих часов

 

Наша сертификация ISO

Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 4

 

 

Части наших патентов

Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 5Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 6

 

 

Части наших наград и квалификаций НИОКР

Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 7Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности 8

Бирки:

Оборудование для обнаружения двойного лучепреломления при нагрузке на линзу

Оборудование для обнаружения двойного лучепреломления

вызванное напряжением пленки

сопутствующие товары

Наши продукты продаются по всему миру, поэтому вы можете быть уверены в том, что производятся наши продукты в целом.

Получить цитату