ZEIT Group
86-28-62156220-810
hua.du@zeit-group.com
Получить цитату
描述
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Arabic
Hindi
Indonesian
Vietnamese
Persian
Polish
描述
Главная страница
категории
Оборудование для нанесения оптических покрытий
Оптическое испытательное оборудование
Подложка для фотомаски
Система измерения двулучепреломления
Оптические элементы
Оборудование для атомно-слоевого осаждения
Машина для нанесения магнетронного напыления
Оборудование для обнаружения дефектов поверхности
Магнитореологическая отделочная машина
Оборудование для контроля плоскостности
Оборудование для контроля поверхности
Нестандартное оборудование
Решения для автоматизированных производственных линий
Система интерферометра лазера
Цифров Autocollimator
Объектив интерферометра
Продукция
Ресурсы
Новости
О Компании
Профиль компании
Наша фабрика
Контроль качества
Свяжитесь мы
Продукция
Получить цитату
Главная страница
-
ZEIT Group Продукция
Оборудование обнаружения поверхностного дефекта осмотра пыли царапин в индустрии микросхемы ИК
Увеличение 40x оборудования обнаружения дефекта поверхности панели дисплея
6×6×0,25 дюйма субстрат фотомаски кварца для процесса фотолитографии
Индивидуальное окно
Пирамидальная призма
Двояковыпуклая линза
Технология искусственного интеллекта
Эментированная линза
Силиконовое зеркало
Полуотражатель
Золотой пленочный отражатель
Алюминиевый пленочный отражатель
Крышная призма
Индивидуальный светофильтр
Узкополосный интерференционный световой фильтр
Параболическое зеркало
6
7
8
9
10
Последний
Общее 10 Страницы
