ZEIT Group
86-28-62156220-810
hua.du@zeit-group.com
Получить цитату
描述
English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국
العربية
हिन्दी
Indonesia
Tiếng Việt
فارسی
Polski
Главная страница
категории
Оборудование для нанесения оптических покрытий
Оптическое испытательное оборудование
Подложка для фотомаски
Система измерения двулучепреломления
Оптические элементы
Оборудование для атомно-слоевого осаждения
Машина для нанесения магнетронного напыления
Оборудование для обнаружения дефектов поверхности
Магнитореологическая отделочная машина
Оборудование для контроля плоскостности
Оборудование для контроля поверхности
Нестандартное оборудование
Решения для автоматизированных производственных линий
Система интерферометра лазера
Цифров Autocollimator
Объектив интерферометра
Продукция
Ресурсы
Новости
О Компании
Профиль компании
Наша фабрика
контроль качества
контактные данные
Продукция
Получить цитату
Главная страница
-
ZEIT Group Продукция
ОЭМ оборудования осмотра поверхности краски автомобиля поперечного разрешения 0.25мм
Ряд измеряя 200*150мм2 оборудования осмотра поверхности формы рефлектора лампы
тестер оборудования осмотра плоскостности компонента мраморного запечатывания 4мм оптически
Тестер 633нм плоскостности высокой точности оборудования осмотра плоскостности компонента запечатывания
Оборудование 590нм обнаружения двулучепреломления прозрачного напряжения вещества
Оборудование для измерения двойного лучепреломления VIS Stress PET PMMA
Световодная пластина Компонент дисплея Величина напряжения Оборудование для обнаружения двойного лучепреломления
Оборудование для измерения двойного лучепреломления с длиной волны 650 нм
Оборудование для обнаружения двойного лучепреломления, вызванного напряжением пленки, в режиме реального времени
Оборудование для обнаружения двойного лучепреломления в УФ-излучении
Оборудование обнаружения ВИС-520нм 590нм 650нм системы измерения двулучепреломления напряжения НИР
Установленные на транспортном средстве очки Система измерения двойного лучепреломления Оборудование для обнаружения
Оборудование обнаружения системы измерения двулучепреломления напряжения в полупроводниковой промышленности
Оборудование обнаружения поверхностного дефекта оси ОЭМ кс ы 2 в полупроводниковой промышленности
Оборудование обнаружения поверхностного дефекта осмотра пыли царапин в индустрии микросхемы ИК
Увеличение 40x оборудования обнаружения дефекта поверхности панели дисплея
6
7
8
9
10
Последний
Общее 10 Страницы